西西蒂SSD，静电衰减测量仪器H0110-S4B

本装置符合JIS L 1094-1980半衰期测量仪，这是一种机织物和针织物带电性的测试方法。（如果您要求用 20 mm 的探头高度进行校准，请在购买时说明）

由于采用电晕放电产生的空气离子的照射作为样品充电的方法，通过选择电晕放电的极性和施加的电压，以及电压值，可以使样品带正电和负电。改变了。

可以测量所有片状样品，例如薄膜、板、线、布、地毯和玻璃。但是，由于对重量、厚度和尺寸有限制，请与我们联系。

可以通过 Honest 进行演示测量。请与我们联系以获取更多信息。

诚实数据分析系统已升级到V3。H0110-S4B也支持Honest本身。

为了将 V3 连接到 H0110-S4A，需要修改主体。请联系我们，因为可能无法修改其他旧型号进行连接。

从 H0110-S4 开始，校准时的探头高度为 15 mm，符合 JIS 标准。如需 20mm 校准，请在订购时注明。

请在购买时指定 AC100V 的 50Hz / 60Hz。