日本东京精密ACCRETECH三坐标测量机ZEISS SPECTRUM plus active

特征用于高精度扫描测量的主动扫描技术标准的VAST XT金测头通过利用电磁力的测力控制装置，始终在工件表面的法线方向施加恒定的测力。这种卓越的测量力控制技术可实现高精度扫描测量。不需要安装空间的紧凑机身通过在背面安装控制器和消除浪费的测量机主体设计，与具有相同测量范围的传统机器相比，我们减少了安装空间。采用与高端机型相同的浮动刻度保持方式每个轴都配备微晶玻璃刻度尺，受热膨胀和收缩更小。此外，与高端

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特征

用于高精度扫描测量的主动扫描技术

标准的VAST XT金测头通过利用电磁力的测力控制装置，始终在工件表面的法线方向施加恒定的测力。这种卓越的测量力控制技术可实现高精度扫描测量。

不需要安装空间的紧凑机身

通过在背面安装控制器和消除浪费的测量机主体设计，与具有相同测量范围的传统机器相比，我们减少了安装空间。

采用与高端机型相同的浮动刻度保持方式

每个轴都配备微晶玻璃刻度尺，受热膨胀和收缩更小。此外，与高端机型一样，它采用浮动刻度保持系统，防止因温度变化引起的导轨膨胀和收缩影响刻度。消除了温度变化对测量结果的不利影响，确保测量结果高度可靠。