西西蒂SSD 测定器 H0110-S4B

本设备符合JIS L1094-1980半衰期测量仪，一种测试纺织品和针织物静电性能的方法。（如果您需要用 20mm 的探头高度进行校准，请在购买时指定。）

作为使样品带电的方法，使用电晕放电产生的空气离子照射，通过选择电晕放电的极性和施加的电压，可以使样品带正电或带负电，也可以改变。

可以测量所有片材样品，例如薄膜、板、线、布、地毯和玻璃。但是，重量、厚度和尺寸都有限制，所以请联系我们。

可以通过 Honest 进行演示测量。请与我们联系以获取更多信息。

诚实数据分析系统已升级到V3。H0110-S4B 也支持 Honest。

为了将 V3 连接到 H0110-S4A，需要修改主机。其他老款可能无法改装连接，请联系我们。

从H0110-S4开始，校准时的标准探头高度为15mm，符合JIS。如需 20mm 校准，请在订购时注明。

购买时指定 AC100V 50Hz/60Hz。